新技術催生完美芯片 百萬分之一秒修複缺陷

美國普林斯頓大學大學的研究人員表示，他們已經找到了一種消除計（jì）算機芯（xīn）片（piàn）中（zhōng）微小缺陷的方法，這將有（yǒu）助於芯（xīn）片廠商開發（fā）處理能力更強大的處理（lǐ）器。

    由於（yú）芯片尺寸越來越小，很小的缺陷就可能影響其性能。例如，如（rú）果芯片中的納（nà）米結構不夠直、不夠薄（báo）或不夠高，就會（huì）造成電流泄露和電壓波動的故障（zhàng）。

    普林斯頓大（dà）學教授約瑟夫在一份（fèn）聲明中說，這些芯片缺陷會嚴重影響到許（xǔ）多產業未來的發展。通過消除這（zhè）些缺（quē）陷，芯片廠商能夠製（zhì）造出尺寸更小和處（chù）理（lǐ）功能更強大的處理器，從而催生尺寸更小、功能更強大的設備。

    約瑟夫方法的重點不是製（zhì）造沒有缺陷的芯片，而是自動地消除（chú）芯片中（zhōng）的缺陷。他提（tí）出的（de）方法能夠在百萬分之一秒的時間內修正有缺陷的部分。